表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- 发布日期:2024-03-15
- 实施日期:2024-10-01
- 状态:现行
国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。主要起草单位厦门荷清教育咨询有限公司、厦门大学。主要起草人徐富春 、时海燕 、岑丹霞 、汤丁亮 、刘芬 、王水菊 。
基础信息
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 20903:2019。
采标中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息。
起草单位
厦门荷清教育咨询有限公司
厦门大学
起草人
徐富春
时海燕
刘芬
王水菊
岑丹霞
汤丁亮
相近标准
GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
20232363-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告